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3504日本日置HIOKI 3504 C测试仪

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3504日本日置HIOKI 3504 C测试仪
  3504日本日置HIOKI 3504 C测试仪 的详细资料:

封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等

 

  • zui多可分成14 类,能简单地根据测量值进行分类 (仅限于3504)
  • 能根据C D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断
  • 高速测量:测量频率1kHz 2ms 120Hz 10ms
  • 可选定测量电压
  • 触发同步测量

 

输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件

 

 

基本参数

 

测量参数

Cs,Cp(电容),D(损耗系数tan

测量范围

C:0.9400pF20.0000mF
D:0.00001
1.99000

基本确度

(代表值)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
测定确度= 基本确度× B× C× D× E, BEは各系数

测量频率

120Hz, 1kHz

测量信号电平

恒定电压模式: 500 mV, 1 V
测量范围:
CV1V:
70 μF 量程(测量频率1kHz
CV1V:
700 μF 量程(测量频率120Hz
CV500 mV:
170 μF 量程(测量频率1kHz
CV500 mV:
1.45mF 量程(测量频率120Hz
信号电平精度 ±10% ± 5 mV

输出电阻

CV1V, CV500mV 开路端子电压模式,上述测量范围以外)

显示

发光二级管

测量时间

典型值: 2.0 ms 1 kHz, FAST
测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同

机能

BIN 分选测量功能(仅限于3504, 触发同步测量, 设定测量条件保存功能, 比较器测量功能, EXT I/O输入/输出, RS-232C接口(标准), GP-IBイ接口(仅限于3504

电源

AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, zui大110VA

体积及重量

260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg

附件

电源线× 1, 电源备用保险丝× 1

(不能单独使用,测量时需要选用测试冶具或探头)

相位同期功能(特殊式样)
同时使用多台3504,可实现测试信号的相位同期。相似的试料测试时所发生的不稳定情况减少,测试状况稳定。根据需求,相位同期功能还可以对应特殊式样。

产品相关关键字: C测试仪
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