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3532-50日本日置HIOKI 3532-50LCR测试仪

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3532-50日本日置HIOKI 3532-50LCR测试仪
  3532-50日本日置HIOKI 3532-50LCR测试仪的详细资料:

搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪

 

  • 测试频率可在42Hz5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整
  • 可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便,改变设置时通过触模屏幕,所需的设定选项会顺序排列显示出来

 

输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件

 

 

基本参数

 

测量参数

│Z│,│Y│,θ,Rp,Rs(ESR),G,X,B,Cp,Cs,Lp,Ls,D(tanδ)Q

测量方法

测量源:恒流10μ100mA(42Hz1MHz)50μ20mA (1MHz5MHz),或恒压10mV5V(42Hz1MHz),50mV1V(1MHz5MHz)
检测:电压,AC

测量频率

42Hz5MHz

测量量程

│Z│RX10.00mΩ200.00MΩ(视条件而定)
θ:-180.00
~+180.00oC:0.3200pF370.00mF
L:16.000nH
750.00kH, D:0.000019.99999
Q:0.01
999.99 Y,G,B5.0000nS99.999S

基本精度

│Z│: ± 0.08% rdg.θ: ± 0.05°

测量时间│Z│的典型值

快速:5ms 慢速2140ms

显示

zui大显示值99999LCD背光功能

比较器功能

设定:上、下限值,百分比或绝对值 出:3档(高,中,低),开路集电极,绝缘

外部打印

9442 (与9443/9446/9593-01同时使用)

电源供应

100240V AC 50/60Hz

体积及重量

352 x124 x 323mm6.5kg

附件

电源线(1),保险丝(1

产品相关关键字: LCR测试仪
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