安捷伦科技公司日前推出业界数字射频（DigRF）V4测试解决方案。它为射频集成电路（RF-IC）和基带IC（BB-IC）的设计人员以及无线手机集成商提供全面的激励和分析能力。

    DigRFV4由MIPI（移动行业处理器接口）联盟开发而成，是移动基带和射频芯片之间的一种高速数字串行总线，也是LTE和WiMAX的关键技术。

    “交叉域”测试（例如DigRFV4）可提供从单个数字比特到IQ调制射频信号的全新分析能力。安捷伦的测试解决方案支持工程师在所选的域（数字或射频）和抽象层（物理层或协议层）中进行测试，以快速表征RF-IC，解决交叉域集成问题。

    安捷伦数字无线测试解决方案将DigRFV4激励和协议分析工具集成到了安捷伦zui的数字、射频和无线仪器中。新型AgilentRDX（无线数字交叉域）测试仪包括两个全新模块，即AgilentN5343A试验器模块和N5344A分析模块，它们均安装在小型模块化AgilentN2X主机内。这种模块化结构设计可以支持未来的MIMO设计。

    AgilentE534和E5346A有源探测解决方案具有超低电容负载（小于0.15pF）和高灵敏度，能够在DigRFV4测试中以千兆位速度对系统进行深入分析，而且干扰zui小。设计工程师可以选择采用软接触技术的新型AgilentN534中间总线探头来快速探测原型电路板，也可选择B5346A飞线探测解决方案在空间有限的设计中轻松监测DigRFV4链路。

    该解决方案还支持DigRFV4和V3技术指标，因而可以保护用户的投资。此测试软件环境包括协议生成和分析功能，并能与业界的AgilentSignalStudio软件和89600矢量信号分析软件实现互通。该软件支持DigRF试验器和分析模块，以及信号分析仪和信号源。通过使用这款熟悉的矢量信号生成和分析软件，射频工程师可以极大地节省测试时间。

    安捷伦科技副总裁兼数字测试分部总SiegfriedGross表示：“DigRFV4解决方案使RFIC工程师和系统集成商可以在交叉域中进行zui快的分析，从而缩短4G移动产品的开发周期。安捷伦提供可结合无线应用模型的新工具，可使客户将移动设备体系结构转换为数字技术，为数字、串行协议和无线测试提供解决方案。”

    安捷伦科技副总裁兼无线事业部总RonNersesian表示：“随着WiMAX和LTE技术的发展，融合数字和无线领域同时推动测试标准实现互通的需求正变得越来越重要。我们在这两个领域都拥有丰富的专业知识，可为这两大领域的融合提供完整的解决方案，帮助客户充满信心地完成从原型设计到集成的整个手机设计过程。”